Corso Prof. Alan Agresti

[Matilde Bini <bini@ds.unifi.it>]

Cari Colleghi, 

il Dipartimento di Statistica "G. Parenti" in collaborazione con la Società
Italiana di Biometria organizza un corso tenuto dal Prof. Alan Agresti
(Università della Florida) su "Analysis of Repeated Categorical Measurement
Data".
Il corso si terrà nei giorni 12-14 maggio p. v., presso il Dipartimento di
Statistica "G. Parenti".

Chi fosse interessato a partecipare, dovrebbe restituire il modulo di
iscrizione nel più breve tempo possibile, dato che il numero massimo di
partecipazione è limitato a 40 persone. 
Il programma e le modalità di partecipazione sono in allegato.

Cordialmente, 
Matilde Bini

Agresti Advanced Course.pdf

Matilde Bini=20
Dipartimento di Statistica "G. Parenti"=20
Universita' di Firenze=20
Viale Morgagni 59, 50134 - Firenze - Italia=20
tel. int.+39.0554237211 - fax +39.0554223560=20
e-mail: bini@ds.unifi.it=20
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